罗博特科：双面晶圆测试设备是全球业界首创的双面测试解决方案
证券日报网讯 8月24日，罗博特科在互动平台回答投资者提问时表示，双面晶圆测试设备是全球业界首创的双面测试解决方案，晶圆顶面连接ATE电学探针卡，底面进行高精度光学I/O六轴有源对准探测，适配CPO光引擎的“上电下光”3D堆叠结构。相关问题涉及商业秘密，公司未经授权无权单方面答复。
（编辑 丛可心）
证券日报网讯 8月24日，罗博特科在互动平台回答投资者提问时表示，双面晶圆测试设备是全球业界首创的双面测试解决方案，晶圆顶面连接ATE电学探针卡，底面进行高精度光学I/O六轴有源对准探测，适配CPO光引擎的“上电下光”3D堆叠结构。相关问题涉及商业秘密，公司未经授权无权单方面答复。
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