广立微申请版图优化评估方法等专利，提高环形振荡器性能

本文源自:金融界

金融界2025年4月29日消息，国家知识产权局信息显示，广立微（上海）技术有限公司申请一项名为“版图优化评估方法、测试结构、装置及存储介质”的专利，公开号CN119886007A，申请日期为2025年3月。

专利摘要显示，本申请涉及一种版图优化评估方法、测试结构、装置及存储介质。所述方法包括：获取第一版图；构建多种类型的测试电容结构对应的延时关系；所述延时关系包括基于测试电容结构的延时、电容值和/或结构设计参数的数据关系；获取版图优化类型；基于所述版图优化类型对应的延时关系，对所述第一版图进行延时优化，和/或，对第二版图进行延时评估；其中，所述第一版图为原始环形振荡器的版图；第二版图为优化后环形振荡器的版图。通过构建多种类型的测试电容结构对应的延时关系，再通过该延时关系基于版图优化类型，对第一版图进行延时优化和/或对第二版图进行延时评估，从而能够更加精准的评估环形振荡器的性能，从而提高环形振荡器的性能。

天眼查资料显示，广立微（上海）技术有限公司，成立于2022年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，广立微（上海）技术有限公司共对外投资了1家企业，专利信息9条，此外企业还拥有行政许可4个。