长光华大智造取得光学参数检测系统及方法专利

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国家知识产权局信息显示，长春长光华大智造测序设备有限公司取得一项名为“光学参数检测系统及方法”的专利，授权公告号CN 115046736 B，申请日期为2021年3月。

天眼查资料显示，长春长光华大智造测序设备有限公司，成立于2017年，位于长春市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本30000万人民币。通过天眼查大数据分析，长春长光华大智造测序设备有限公司参与招投标项目13次，财产线索方面有商标信息16条，专利信息73条，此外企业还拥有行政许可4个。

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