中科飞测申请一种异常区域筛选方法专利，提高异常区域筛选的准确性

本文源自:金融界

金融界2025年6月4日消息，国家知识产权局信息显示，上海中科飞测半导体科技有限公司申请一项名为“一种异常区域筛选方法、装置、设备、介质及程序产品”的专利，公开号CN120088446A，申请日期为2025年04月。

专利摘要显示，本申请提供一种异常区域筛选方法、装置、设备、介质及程序产品，对待选图像进行轮廓点提取处理，得到多个轮廓点，基于轮廓点确定轮廓点对应的目标点对，目标点对包括第一点和第二点，第一点和第二点分别位于轮廓点所在部分轮廓的两侧，将第一点的第一灰度和第二点的第二灰度进行灰度对比，得到目标点对的第一对比结果。由于真实的异常区域与其外围的灰度差异会更大，而虚假的异常区域与其外围的灰度差异会小一些，则在满足预设数量的第一对比结果都标识第一灰度与第二灰度的差异达到预设差异时，说明大部分的轮廓点的内外侧的灰度差异都足够大，准确说明待选区域为异常区域，避免将虚假的异常区域误检为异常区域，提高了异常区域筛选的准确性。

天眼查资料显示，上海中科飞测半导体科技有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本8000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海中科飞测半导体科技有限公司参与招投标项目7次，专利信息15条，此外企业还拥有行政许可5个。