中科飞测申请一种缺陷检测方法及装置等专利，得到缺陷像素点及其位置坐标

本文源自:金融界

金融界2025年6月4日消息，国家知识产权局信息显示，上海中科飞测半导体科技有限公司申请一项名为“一种缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质”的专利，公开号CN120088229A，申请日期为2025年02月。

专利摘要显示，本申请公开了一种缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质，所述方法包括：获取透射图像及反射图像；分别将透射图像及反射图像输入图像轮廓提取模型中，得到透射图像及反射图像的轮廓图像；其中，图像轮廓提取模型预先利用多张透射图像、反射图像以及两者的轮廓图进行训练好；将生成的透射图像的轮廓图像及反射图像的轮廓图像进行匹配，得到轮廓匹配坐标点；基于轮廓匹配坐标点，将透射图像和反射图像进行匹配；计算透射图像与反射图像上各个像素点的像素值相加，得到合成图像；通过将合成图像上各个像素点的像素值与阈值进行对比，确定出缺陷像素点及其位置坐标。

天眼查资料显示，上海中科飞测半导体科技有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本8000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海中科飞测半导体科技有限公司参与招投标项目7次，专利信息15条，此外企业还拥有行政许可5个。