深圳精智达申请一种基于相位偏折术的缺陷检测专利，提高对不同显著性缺陷的检测能力

本文源自:金融界

金融界2025年5月23日消息，国家知识产权局信息显示，深圳精智达技术股份有限公司申请一项名为“一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质”的专利，公开号CN120031882A，申请日期为2025年04月。

专利摘要显示，本申请公开了一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高对不同显著性缺陷的检测能力。获取待测显示屏的反射条纹图像；对所述反射条纹图像进行相位提取和相位解包裹处理，生成相位分布数据；提取所述相位分布数据的梯度数据；根据所述梯度数据和显著性阈值对所述反射条纹图像的缺陷区域进行多层级显著性识别，生成多层级显著性识别结果，所述多层级显著性识别结果包括高显著性检测结果、中显著性检测结果、低显著性检测结果，不同层级的显著性识别结果对应不同的类型的缺陷；将多层级显著性识别结果进行分级分类处理；将分级分类处理后的最终检测结果输出。

天眼查资料显示，深圳精智达技术股份有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本9401.1754万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳精智达技术股份有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目175次，财产线索方面有商标信息29条，专利信息240条，此外企业还拥有行政许可18个。