一博科技:关于取得发明专利证书的公告

http://ddx.gubit.cn  2023-06-01  一博科技(301366)公司公告

深圳市一博科技股份有限公司关于取得发明专利证书的公告

本公司及董事会全体成员保证信息披露的内容真实、准确、完整,没有虚假记载、误导性陈述或重大遗漏。

深圳市一博科技股份有限公司(以下简称“公司”)于近日取得由国家知识产权局颁发的发明专利证书,具体情况如下:

一、发明专利证书基本情况

1、发明专利1

发 明 名 称:一种测试走线DUT性能的仿真方法

发 明 人:吴均;黄刚

专 利 号:ZL 2019 1 0505355.9

专利申请日:2019年06月12日

专 利 权人:深圳市一博科技股份有限公司

授权公告日:2023年04月07日

授权公告号:CN 110298086 B

专利权自授权公告之日起生效。专利权期限为二十年,自申请日起算。

本发明公开了印制电路板测试领域中的一种测试走线DUT性能的仿真方法,仅通过精确的仿真就可以得到DUT的性能,无须购买昂贵的专业去嵌软件。其与专业的去嵌软件相比,成本得到了大幅度降低,并且本发明能够得到高精度的仿真结果,整个仿真过程操作简单。

2、发明专利2

发 明 名 称:一种能在PCB上快速抓取元器件Group的方法

发 明 人:吴均;黄运坚专 利 号:ZL 2020 1 0380823.7专利申请日:2020年05月08日专 利 权人:深圳市一博科技股份有限公司授权公告日:2023年05月23日授权公告号:CN 111625879 B专利权自授权公告之日起生效。专利权期限为二十年,自申请日起算。

本发明公开了一种能在印制电路板(PCB)上快速抓取元器件Group的方法。该方法操作步骤少,能够极大减少人为误操作,同时提升了检查人员的工作效率。

3、发明专利3

发 明 名 称:传输线铜箔损耗的计算方法、装置、设备及存储介质发 明 人:刘丽娟;吴均专 利 号:ZL 2018 1 0841001.7专利申请日:2018年07月27日专 利 权人:深圳市一博科技股份有限公司授权公告日:2023年05月26日授权公告号:CN 109117530 B专利权自授权公告之日起生效。专利权期限为二十年,自申请日起算。本发明实施例公开了一种传输线铜箔损耗的计算方法、装置、设备及存储介质。本实施例提供的方法可以预先准确计算铜箔损耗,从而降低生产成本和产品设计风险,缩短设计周期。

二、取得发明专利证书对公司的影响

上述发明专利为公司自主研发,所涉及的技术及应用领域与公司业务相关,目前已在公司相关业务中应用。专利的取得暂不会对公司生产经营产生重大影响,但有助于推动公司自主创新,发挥自主知识产权优势,进一步完善知识产权保护体系,保持公司的技术优势地位,增强企业核心竞争力,对公司的可持续发展具有积极影响。

三、备查文件

国家知识产权局颁发的《发明专利证书》。

特此公告。

深圳市一博科技股份有限公司董事会

2023年6月1日


附件:公告原文